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Evénements de l'IMEP-LAHC
Microélectronique, électromagnétisme, photonique, hyperfréquences
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> Actualites

Séminaire

  • 25
    mars
    L’EZ-FET pour la caractérisation de substrats SOI
  • 19
    mars
    Caractérisation électrique avancée DC et RF de composants passifs et actifs en technologie 28nm-FDSOI à température cryogénique

Soutenance HDR

mise à jour le 11 mars 2024

anglais
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