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Microélectronique, électromagnétisme, photonique, hyperfréquences
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Soutenance de thèse de Mr GERRER Louis

Publié le 11 juillet 2011
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Soutenance 12 juillet 2011 | Plan d'accès
Soutenance de M.GERRER Louis pour une thèse de DOCTORAT de l'Université de Grenoble, spécialité Micro et Nano Electronique intitulée :

Impact du claquage progressif de l’oxyde sur le fonctionnement des composants et circuits MOS : Caractérisation et modélisation.

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Mardi   12  Juillet 2011  à 10h30

Résumé de thèse :
La progressivité du claquage des oxydes de grille d'épaisseurs inférieures à 20 nm permet d'envisager une prolongation de la durée de vie des circuits. Cet enjeu majeur de la fiabilité contemporaine requiert des modèles adaptés afin de contrôler la variabilité des paramètres induites par le claquage. Après avoir étudié l'impact d'une fuite de courant sur une couche chargée, nous avons mis au point un modèle bas niveau de simulation par éléments finis, capable de reproduire la dérive des paramètres mesurée sur des dispositifs du nœud 45 nm. Des lois empiriques de ces dérives ont été injectées dans un modèle compact du transistor dégradé, simplifié par nos observations originales de la dépolarisation du canal et de la répartition des courants. Finalement nous avons simulé l'impact du claquage sur le fonctionnement de circuits simples et estimés la dérive de leurs paramètres tels que l'augmentation de la consommation due au claquage.

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Partenaires

Thèse préparée dans le laboratoire IMEP-LAHC, sous la direction conjointe de Mr.GHIBAUDO et Mr JOMAAH

mise à jour le 16 février 2015

anglais
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