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Microélectronique, électromagnétisme, photonique, hyperfréquences
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Soutenance de thèse de Rania LAJMI

Publié le 31 août 2019
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Soutenance 4 octobre 2019 | Plan d'accès
Soutenance de thèse de Rania LAJMI,  pour une thèse de DOCTORAT de l' Université de  Grenoble Alpes , spécialité  " OPTIQUE ET RADIOFREQUENCES , ", intitulée:
Amphi Z108  
Grenoble INP – Phelma
3 Parvis Louis Néel, 38000 Grenoble, France

« Caractérisation et modélisation du vieillissement des circuits analogiques et RF en technologie 28 nm FDSOI »

Soutenance de thèse

Soutenance de thèse

Vendredi 4 Octobre 2019  à 14h
Résumé :
Il est bien connu que des conditions environnementales difficiles, telles que les surtensions électriques ou thermiques élevées, affectent profondément les circuits intégrés à signaux analogiques et mixtes fabriqués à l'aide des technologies à oxyde de métal dans les nœuds technologiques du semi-conducteur en accélérant les mécanismes de défaillance, tels que l'instabilité de température négative (NBTI) ou l'injection de porteurs chauds (HCI) au cours de leur vie. Même s'ils déclenchent des pannes légères qui ne compromettent pas le fonctionnement du circuit, ils peuvent avoir un impact significatif sur les performances (courant de fuite, bruit, fréquence de fonctionnement ...).
Ce travail de thèse aborde le problème de l'immunité à long terme induit par le vieillissement des circuits utilisés fréquemment dans les applications de nos jours
(régulateur de tension à faible tension de chute LDO, boucle à verrouillage de phase PLL, oscillateur contrôlé en tension VCO, convertisseur analogique-numérique CAN, amplificateur de puissance PA). Les enquêtes sont effectuées sur la base des simulations de vieillissement prenant en charge des modèles des mécanismes de vieillissement développé par notre équipe et des mesures des circuits implémentés en technologie 28 nm FDSOI au sein de l’entreprise STMicroelectronics. Des tests accélérés ont été utilisés pour évaluer le risque de réduction de la robustesse avec le temps. Des techniques de correction appropriées pour surmonter la dégradation des performances du circuit induite par le vieillissement sont proposées et étudiées.
 
Membres de jury :
  • M. Philippe BENECH, Professeur, Grenoble : Directeur de thèse
  • M. Sylvain BOURDEL, Professeur, Grenoble : Co-directeur de thèse
  • Mme Estelle LAUGA-LARROZE, Maitre de conférences, Grenoble : Co-encadrant de thèse
  • M. Didier VINCENT , Professeur, Saint Etienne : Examinateur
  • M. Jean-Guy TARTARIN, Professeur, Toulouse : Rapporteur
  • M. Hervé  BARTHELEMY, Professeur, Toulon: Rapporteur
  • M. Florian CACHO, Ingénieur STMicroelectronics-Crolles : Encadrant industriel

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Partenaires

Thèse préparée dans le laboratoire : UMR 5130 - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique -Laboratoire d'hyperfréquences et de caractérisation  et à STMicroelectronics, sous la direction de Philippe BENECH, directeur de thèse et Sylvain BOURDEL & Estelle, LAUGA-LARROZE, Codirecteur.

mise à jour le 19 septembre 2019

Univ. Grenoble Alpes