Soutenance de thèse de Rania LAJMI

Résumé :
Il est bien connu que des conditions environnementales difficiles, telles que les surtensions électriques ou thermiques élevées, affectent profondément les circuits intégrés à signaux analogiques et mixtes fabriqués à l'aide des technologies à oxyde de métal dans les nœuds technologiques du semi-conducteur en accélérant les mécanismes de défaillance, tels que l'instabilité de température négative (NBTI) ou l'injection de porteurs chauds (HCI) au cours de leur vie. Même s'ils déclenchent des pannes légères qui ne compromettent pas le fonctionnement du circuit, ils peuvent avoir un impact significatif sur les performances (courant de fuite, bruit, fréquence de fonctionnement ...).
Ce travail de thèse aborde le problème de l'immunité à long terme induit par le vieillissement des circuits utilisés fréquemment dans les applications de nos jours
(régulateur de tension à faible tension de chute LDO, boucle à verrouillage de phase PLL, oscillateur contrôlé en tension VCO, convertisseur analogique-numérique CAN, amplificateur de puissance PA). Les enquêtes sont effectuées sur la base des simulations de vieillissement prenant en charge des modèles des mécanismes de vieillissement développé par notre équipe et des mesures des circuits implémentés en technologie 28 nm FDSOI au sein de l’entreprise STMicroelectronics. Des tests accélérés ont été utilisés pour évaluer le risque de réduction de la robustesse avec le temps. Des techniques de correction appropriées pour surmonter la dégradation des performances du circuit induite par le vieillissement sont proposées et étudiées.
 
Membres de jury :

• M. Philippe BENECH, Professeur, Grenoble : Directeur de thèse
• M. Sylvain BOURDEL, Professeur, Grenoble : Co-directeur de thèse
• Mme Estelle LAUGA-LARROZE, Maitre de conférences, Grenoble : Co-encadrant de thèse
• M. Didier VINCENT , Professeur, Saint Etienne : Examinateur
• M. Jean-Guy TARTARIN, Professeur, Toulouse : Rapporteur
• M. Hervé  BARTHELEMY, Professeur, Toulon: Rapporteur
• M. Florian CACHO, Ingénieur STMicroelectronics-Crolles : Encadrant industriel