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Microélectronique, électromagnétisme, photonique, hyperfréquences
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Caractérisations PHOTONIQUES
 

Caractérisations photoniques

La plateforme de caractérisation photonique dispose d’un large panel d’équipements permettant d’analyser l’interaction de la lumière avec les  dispositifs optoélectroniques. Principalement dédiée aux composants photoniques intégrés sur verre, la modularité des équipements permet de travailler avec  différents matériaux (III-V, silicium…).

Les différentes sources (Laser, supercontinum, etc..) et capteurs (caméras silicium, germanium, spectro, etc..) à disposition permettent de travailler du proche UV (350µm), jusqu’au proche infrarouge (2µm).
 
Contact : Gregory GROSA

HOC : Hyperfréquences , Optomicrondes et CEM
 

Test sous pointes hyperfréquences  à 110Ghz

Cette plate-forme regroupe sur les deux sites de Grenoble et du Bourget-du-Lac  l'ensemble des équipements communs de caractérisation Hyperfréquences, Optomicroondes et de CEM du laboratoire. Des moyens expérimentaux performants sont mis à la disposition des chercheurs pour la caractérisation sous pointes et coaxiale jusqu'à 110GHz, pour la mise en œuvre des intéractions optique-microondes dans les systèmes de télécommunication innovants et enfin pour l'étude des phénomènes de rayonnement électromagnétique.

Plateforme TECHNOLOGIQUE
 
Préparattion d'échantillons en salle blanche
La fabrication de composants se fait au sein des 450m² de salle blanche installés sur le site Minatec.
Nos moyens technologiques disponibles sont ceux couramment utilisés dans les procédés de microélectronique :des bâtis de dépôts de couches minces diélectriques et métalliques par pulvérisation cathodique RF ou par évaporation Effet Joule, des équipements de photolithographie (tournette, photomasqueur) avec des motifs allant jusqu’à 0,6 micron ainsi que des moyens de gravure sèche ou humique.
Par ailleurs, le laboratoire a développé depuis de nombreuses années une technologie d'optique intégrée sur verre basée sur des procédés d'échanges ioniques dans des fours de diffusion et d'enterrage assisté sous champ électrique.
Contact : Aude BOUCHARD

CEP : Caractérisation Electrique et Physique]
 

Caractérisation sous pointes de transistors

Grâce à un ensemble d'équipements scientifiques performants, l'IMEP-LaHC possède des compétences dans  les mesures permettant l'étude intrinsèque des composants électroniques avancés ainsi que de leurs matériaux et technologies.
Contact :Xavier MESCOT

mise à jour le 14 mai 2019

anglais
IMEP-LAHC
Site de Grenoble
Grenoble INP - Minatec : 3, Parvis Louis Néel - CS 50257 - 38016 Grenoble Cedex 1

Site de Chambéry
Université de Savoie - F73376 Le Bourget du Lac Cedex
 


  CNRS  http://www.cnrs.fr      Site Grenoble-INP http://www.grenoble-inp.fr       Université Grenoble Alpes (UGA)      Université Savoie Mont Blanc
Univ. Grenoble Alpes