Caractérisation Radiofréquences et Hyperfréquences
La plate-forme dispose de 4 analyseurs vectoriels de réseaux et couvre un très large domaine de fréquence, allant des ondes radios jusqu'aux ondes millimétriques. Ces équipements permettent une caractérisation fréquentielle en régime petit signal de dispositifs passifs et actifs de structures planaires, coaxiales ou en boîtiers. Un système très large bande 40 MHz - 110 GHz permet notamment une analyse pleine bande sur un seul balayage et en excitation coaxiale.
D'autres moyens de caractérisations sont également disponibles. La plate-forme est notamment équipées pour la caractérisation en bruit de dispositifs jusqu'à 26 GHz : mesure du facteur de bruit et extraction des paramètres de bruit. En outre, des solutions sont proposées pour l'analyse spectrale jusqu'à 75 GHz ainsi que pour l'analyse temporelle subnanoseconde.
Pour les caractérisations de dispositifs à l'échelle du micron sur tranche ou sur puce, deux stations de test sous pointes sont exploitables en combinaison avec nos instruments de mesure.
Une station manuelle dimensionnée pour des wafer de 4'' (100mm) est utilisée pour les caractérisations jusqu'à 40GHz.
Une station semi automatique accepte des dispositifs jusqu'à 12'' (300mm) et permetdes caractérisations jusqu'à 110GHz.