logo N&B

Mesures à l'échelle nanométrique - Grenoble INP - IMEP-LAHC

Imprimer la page English

Mesures à l'échelle nanométrique

  •  1 AFM (Atomic Force Microscopy) : Mode classique en topographie (Tapping et Contact) + modes électriques (EFM, SCM, TUNA, C-AFM).

Atomic Force Microscopy

  • 1 profilomètre optique Fogale (topographie de très bonne résolution (quelques nm) + analyse dynamique de MEMs (fréquence de résonance, harmoniques...).

    Profilomètre optique Fogale
 
IMEP-LAHC - UMR 5130
Site Grenoble
Grenoble INP - Minatec : 3, Parvis Louis Néel - CS 50257 - 38016 Grenoble Cedex 1

Site Chambéry
Université de Savoie - F73376 Le Bourget du Lac Cedex Copyright Grenoble INP