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Microélectronique, électromagnétisme, photonique, hyperfréquences
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Caractérisations PHOTONIQUES

 

Caractérisations photoniques


La plateforme de caractérisation photonique dispose d’un large panel d’équipements permettant d’analyser l’interaction de la lumière avec les  dispositifs optoélectroniques.
Principalement dédiée aux composants photoniques intégrés sur verre, la modularité des équipements permet de travailler avec  différents matériaux (III-V, silicium…).
Les différentes sources (Laser, supercontinum, etc..) et capteurs (caméras silicium, germanium, spectro, etc..) à disposition permettent de travailler du proche UV (350µm), jusqu’au proche infrarouge (2µm).
 
Contact : Grégory GROSA
HYPER Caractérisation Hyperfréquence

Test sous pointes hyperfréquences  à 110Ghz

 
La plateforme   HYPER regroupe l’ensemble des moyens de caractérisation et de test aux hyperfréquences, disponibles sur le site grenoblois du laboratoire.Les applications couvertes s’étendent de la caractérisation de composants, matériaux et circuits fonctionnant de quelques dizaines de MHz à plus de 100 GHz, jusqu’à l’étude de systèmes de communication numérique radio sur fibre optique. Les différentes solutions techniques proposées intègrent notamment le test sous pointes de composants sur tranche ou puce et la caractérisation d’antennes en chambre anéchoïde.
 
Contact : Nicolas CORRAO

Plateforme TECHNOLOGIQUE
Préparattion d'échantillons en salle blanche

La fabrication de composants se fait au sein des 450m² de salle blanche installés sur le site Minatec.

Nos moyens technologiques disponibles sont ceux couramment utilisés dans les procédés de microélectronique :
 
  • des bâtis de dépôts de couches minces diélectriques et métalliques par pulvérisation cathodique RF ou par évaporation Effet Joule
  • des équipements de photolithographie (tournette, photomasqueur) avec des motifs allant jusqu’à 0,6 micron
  • des moyens de gravure sèche ou humide
     
Par ailleurs, le laboratoire a développé depuis de nombreuses années une technologie d'optique intégrée sur verre basée sur des procédés d'échanges ioniques dans des fours de diffusion et d'enterrage assisté sous champ électrique.
 
Contact : Aude BOUCHARD

ECLAT "Electromagnétisme, Cryogénie, Lasers,et THz"

Analyse de réseaux

La plateforme ECLAT située sur le site du Bourget du lac dispose d'un ensemble d'équipements pour la caractérisation radiofréquences et hyperfréquences.
 
Contact :Magali ASTIC

CEP : Caractérisation Electrique et Physique

Caractérisation sous pointes de transistors

Grâce à un ensemble d'équipements scientifiques performants, CROMA possède des compétences dans  les mesures permettant l'étude intrinsèque des composants électroniques avancés ainsi que de leurs matériaux et technologies.
Contact : Xavier MESCOT

mise à jour le 11 janvier 2024

anglais
CROMA
Site de Grenoble
Grenoble INP - Minatec - 3, Parvis Louis Néel , CS 50257 - 38016 Grenoble Cedex 1

Site de Chambéry
Université Savoie Mont Blanc - Rue Lac de la Thuile, Bat. 21 - 73370 Le Bourget du Lac
 
 
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