Soutenance de thèse de Mr Laurent NEGRE
Publié le 12 décembre 2011
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Soutenance de M.Laurent NEGRE pour une thèse de DOCTORAT de l'Université de Grenoble, spécialité Nano Electronique Nano Technologies (NENT) intitulée :
Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors MOS en Radio Fréquence.
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Partenaires
Thèse préparée en collaboration avec la société STMicroelectronics et le laboratoire IMEP-LAHC, sous la direction conjointe de M.Gérard Ghibaudo (IMEP-LAHC) et David ROY (STMicroelectronics)
mise à jour le 16 février 2015