Banc de mesure d’indice de réfraction par la méthode M-lines

Caractérisation par la méthode des raies noires et combinée à la méthode WKB inverse, des indices effectifs d’une couche mince transparente :
 

• Banc de caractérisation multi longueur d’onde, polyvalent.
•  Mesure automatique,
• Résolution angulaire : 3 arc/s