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> Plateformes > Photonique > Banc de mesure d’indice de réfraction par la méthode M-lines

Banc de mesure d’indice de réfraction par la méthode M-lines

Caractérisation par la méthode des raies noires et combinée à la méthode WKB inverse, des indices effectifs d’une couche mince transparente :
 
  • Banc de caractérisation multi longueur d’onde, polyvalent.
  •  Mesure automatique,
  • Résolution angulaire : 3 arc/s
     

mise à jour le 25 juillet 2019

anglais
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