La plateforme dispose de nombreux instruments de test et mesure dans les domaines temporel et fréquentiel. Sont notamment disponibles :
Plusieurs analyseurs vectoriels de réseaux (portable, 20GHz, 40GHz, 65GHz et 110GHz ultra large bande)
Plusieurs analyseurs de spectre 20 et 40GHz (jusqu’à 90GHz via un mélange harmonique externe)
Puissance-mètre jusqu’à 110GHz
Analyseur de figure de bruit jusqu’à 26GHz avec source étalonnée
Plusieurs générateurs/synthétiseurs de signaux analogiques jusqu’à 110GHz
Oscilloscopes rapides 6GHz (temps réel) et 20GHz (temps équivalent)
Synthétiseur d’impédance piloté 18GHz
Panel d'instruments Hyperfréquences disponibles
Ces appareils sont complétés par des moyens de test spécifiques, par exemple sur monture coaxiale et sous pointes pour s’adapter à la nature des composants, dispositifs ou circuits électroniques sous test (planaires et intégrés sur tranches ou puces).
Montures de test coaxiales universelles 20GHz, 40GHz et 65GHz
Station manuelle pour le test sous pointes RF
Test hyperfréquence sous pointes Configuration de test sous pointes
L’exploitation de ces équipements permet aux utilisateurs de mettre en œuvre des solutions de mesures standards ou personnalisées et ainsi d’accéder aux différents domaines de caractérisation recherchés :
Paramètres S de quelques dizaines de KHz jusqu’à 110GHz
Non linéarités de compression et d’intermodulation
Analyse spectrale et mesure de bruit de phase jusqu’à 90GHz
Figure de bruit jusqu’à 26GHz, paramètres de bruit jusqu’à 18GHz
Réflectométrie temporelle sub-nanoseconde
Analyse temporelle de signaux rapides jusqu’à 6GHz en temps réel et 20GHz en temps équivalents
Cellules résonantes pour la caractérisation de matériaux hautes fréquences